顆粒圖像儀的細節(jié)觀測更加清晰，并且使用USB2.0/1394傳輸方式還可以很方便的在便攜式電腦上使用，進一步提高了產品的整體性能，與傳統(tǒng)顯微鏡相比優(yōu)勢更加明顯。根據多年來用戶的使用意見進行了更加人性化的升級和改進，由計算機自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性”、以及包括長徑比、球型度在內的“形態(tài)參數”。再通過進一步計算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數據），軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數量，從而有效的保證了數據的代表性。

　　激光粒度儀和顆粒圖像儀有什么區(qū)別？

　　粒度儀可分為納米粒度儀，激光粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。

　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。

　　粒度儀分類介紹：

　　激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀，假設被測顆粒為標準球形，無法測量顆粒形貌，多為離線粒度儀。

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數據處理軟件組成，可檢測顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段。

　　其測試顆粒大小及分布時采用的分散系統(tǒng)根據不同的測試要求分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)。

　　當光線照射到顆粒上時會發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關。觀測其光強度，可應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產生三類光：一類，在粒子表面、通過粒子內部、經粒子內表面的反射光；第二類，通過粒子內部而折射出的光；第三類，在表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無關，全都可以作為光散射處理。

　　一般地，光散射現(xiàn)象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是，實際使用起來過于復雜，為了求得實際的光強度，可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系，即：rλ時，F(xiàn)raunhofer衍射理論。在使用上述理論時，應考慮到光的波長和粒徑的關系，在不同的領域使用不同的理論。

　　粒徑大于波長的時候，由Fraunhofer衍射理論求得的衍射光強度和Mie散射理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似處理。這時，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer的近似式來表示散射強度。這時有必要根據Mie散射理論作進一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質的相對折射率來確定。

　　顆粒圖像儀

　　對顆粒拍照后將圖片分析處理，可以測量顆粒形貌，通過此方法可實現(xiàn)原位實時在線測量。

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動態(tài)兩種測試方法。

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算，并可以將測試結果輸出為報告。

　　動態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數據處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。